Buku Ketenaganukliran
Prinsip dasar dan aplikasi metode difraksi sinar-x untuk karakterisasi material
Terdapat 2 macam teknik difraksi sinar-X, yaitu teknik difraksi kristal tunggal untuk karakterisasi kristal tunggal dan difraksi kristal bubuk (powder) untuk karakterisasi polikristalin. Kristal tunggal merupakan kristal dengan tampang lintang 0,3 mm.
Difraksi kristal tunggal digunakan terutama untuk mengelusidasi struktur molekul senyawa, simetri, dimensi unit sel, dll. Difraksi powder terutama digunakan untuk identifikasi sidik jari dari berbagai material, yaitu untuk identifikasi fasa materi kristal, komposisi fasa dan proporsi relatif dalam suatu campuran. Materi yang dianalisis biasanya ditumbuk, dihomogenisasi, dan komposisinya
ditentukan. Difraksi sinar X oleh sebuah materi terjadi akibat dua fenomena: (1) hamburan oleh tiap atom dan (2) intenferensi gelombang gelombang yang dihamburkan oleh atom atom tersebut. Interferensi ini terjadi karena gelombang gelombang yang dihamburkan oleh atom atom memiliki koherensi dengan gelombang yang datang maupun dengan atom itu sendiri. Pembahasan tentang karakteristik dasar sinar-X dan hamburan sinar-X yang dihasilkan akibat interaksi sinar X dengan materi (elektron, atom, dan kristal) dijabarkan pada BABI.
Karena banyaknya informasi yang bisa diperoleh terkait analisis dengan difraksi sinar X tersebut, maka difraksi sinar X sangat diperlukan di berbagai bidang penelitian dan analisis. Review terkait aplikasi difraksi sinar-X untuk karakterisasi material berbagai bidang tersebut dibahas pada BAB II. Untuk melakukan identifikasi struktur kristal dan tingkat kristalinitas dengan metode difraksi
sinar-X diperlukan pengetahuan mengetahui kristalografi. Salah satu komponen penting kristalografi adalah melakukan pengindeksan bidang kisi kristal yang disebut indeks Miller. Kajian tentang kristal dengan parameter kristal dibahas dalam BAB III.
Mekanisme kerja alat difraktometer sinar X dibangun oleh 3 macam mekanisme, yaitu mekanisme produksi sinar-X oleh sumber sinar X, mekanisme filtrasi radiasi sinar X karakteristik oleh logam filter,
dan mekanisme kristal menghasilkan difraktogram simar X. Ketiga mekanisme tersebut akan dibahas dalam BAB Sedangkan bagian-bagian penting dalam difraktometer sinar X terdapat pada BABV Buku in a fokuskan hanya pada ditraksi sinar X powder. Jenis aplikasi yang diberikan oleh analisis
dengan metode difraksi siman X powder dijabarkan pada bab Vi sid BAB X, antara lain membahas penentuan
Denis komponen kristal penyusun materi padat (analisis kualitatif)-BABVI
Ukuran kristal dan regangan kisi VIII
Jumlah komponen kristal yang membentuk padat (analisis kuantitatif)-BAB IX
Ketersediaan
| S19-0068 | 535.42 TUT p C.1 | Perpustakaan Poltek Nuklir | Tersedia |
| S20-0412 | 535.42 TUT p C.2 | Perpustakaan Poltek Nuklir | Tersedia |
| S20-0413 | 535.42 TUT p C.3 | Perpustakaan Poltek Nuklir | Tersedia |
Informasi Detail
- Judul Seri
-
-
- No. Panggil
-
535.42 TUT p
- Penerbit
- Malang : UB Press., 2018
- Deskripsi Fisik
-
xiii, 95 halaman : ilustrasi ; 24 cm
- Bahasa
-
Indonesia
- ISBN/ISSN
-
9786024324315
- Klasifikasi
-
535.42
- Tipe Isi
-
teks
- Tipe Media
-
tanpa perantara
- Tipe Pembawa
-
volume
- Edisi
-
Cetakan pertama
- Subjek
- Info Detail Spesifik
-
-
- Pernyataan Tanggungjawab
-
Tutik Setianingsih, Sutarno
Versi lain/terkait
Tidak tersedia versi lain
Lampiran Berkas
Komentar
Anda harus login sebelum memberikan komentar
